Синтез таблиц вероятности ошибок первого и второго рода для неидеальных биометрико-нейросетевых преобразователей с 256 выходами
Abstract
Приведены таблицы вероятностей ошибок первого и второго рода для неидеальных биометрико-нейросетевых преобразователей с 256 выходами, построены номограммы зависимости вероятности ошибок «Своего» и «Чужого» от среднеквадратического отклонения ненормированной меры Хэмминга.
How to cite
Надеев Д.Н. Синтез таблиц вероятности ошибок первого и второго рода для неидеальных биометрико-нейросетевых преобразователей с 256 выходами // Нейрокомпьютеры: разработка, применение. 2007. № 12.