О влиянии неоднородности температурного поля на надежность электрорадиоизделий

Выполнено численное моделирование неодномерных нестационарных полей температур в типичной печатной плате с учетом реальных механизмов теплообмена с внешней средой. Сопоставлены интенсивности отказов типичных электрорадиоизделий, рассчитанные на базе неодномерных температурных полей и средних по объему электрорадиоизделий температур. Показано, что изменение интенсивности отказов для этих двух методов расчета для всех типов рассмотренных интегральных схем составляет не менее 100 %. Сделан вывод о том, что при анализе показателей надежности ЭРИ и деталей радиоэлектронной аппаратуры необходимо проводить расчеты с учетом реальных значений температуры элемента или детали. Учет пространственной неоднородности температурных полей реальной радиоэлектронной аппаратуры может приводить к значительным изменениям в показателях надежности.