Журналы
Разделы книг
Статьи по ключевому слову фрактальные признаки
Комплексный подход к задаче анализа и обработки многокомпонентных измерительных сигналов на основе мультимасштабных и спектральных методов высокого разрешения
В.В. Геппенер - д.т.н., профессор, кафедра МО ЭВМ, Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет (ЛЭТИ). E-mail: geppener@mail.ru Д.М. Клионский - аспирант, кафедра МО ЭВМ, Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет (ЛЭТИ). E-mail: klio2003@list.ru Н.И. Орешко - к.т.н., вед. науч. сотрудник, Научно-инженерный центр Санкт-Петербургского электротехнического университета. E-mail: oreshko@nicetu.spb.ru