С.В. Кривальцевич1, Н.Е. Агарков2

1,2 Омский научно-исследовательский институт приборостроения (г. Омск, Россия)

1,2 Омский научный центр СО РАН, Институт радиофизики и физической электроники (г. Омск, Россия)

1 Омский государственный университет им. Ф.М. Достоевского (г. Омск, Россия)

1 kriser2002@mail.ru; 2 agarkov.nikita@gmail.com