Журналы
Разделы книг
Статьи по ключевому слову метод матриц переноса
Повышение эффективности модели обеспечения надежности устройств наноэлектроники на GaAs/AlxGa(1-x)As-гетероструктурах с поперечным токопереносом в рамках моделирования их ВАХ
В.Д. Шашурин - д.т.н., профессор, зав. кафедрой «Технологии приборостроения», Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана E-mail: schashurin@bmstu.ru Н.А. Ветрова - к.т.н., доцент, Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана E-mail: schashurin@bmstu.ru Е.В. Куимов - студент, Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана E-mail: ekjmo@mail.ru
Топологически-ориентированный подход к выбору метода моделирования прозрачности гетероструктурных каналов наноэлектронных приборов

В.Д. Шашурин1, Н.А. Ветрова2, Е.В. Куимов3, К.П. Пчелинцев4, А.С. Александров5

1,3–5 МГТУ им. Н.Э. Баумана (Москва, Россия)

2 Российский Университет Дружбы Народов (Москва, Россия)