Журналы
Разделы книг
Статьи по ключевому слову дефекты микросхем
Нейросетевые методы дефектоскопии интегральных структур

А. Ю. Вирясова – магистр, Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана

E-mail: virnastya@yandex.ru

А. И. Власов – к.т.н., доцент, кафедра «Проектирование и технология производства электронной аппаратуры», Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана

E-mail: vlasovai@bmstu.ru

А. А. Гладких – к.т.н., доцент, кафедра «Проектирование и технология производства электронной аппаратуры», Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана

E-mail: a.gladkikh@inforion.ru