Б.А. Косарев1, С.В. Кривальцевич2

1 Омский государственный технический университет (г. Омск, Россия)

2 Омский научно-исследовательский институт приборостроения (г. Омск, Россия)

2 Омский научный центр СО РАН (Институт радиофизики и физической электроники) (г. Омск, Россия)

1 BorisK_88@mail.ru; 2 kriser2002@mail.ru