С.В. Кривальцевич1, А.О. Никифорова2, Д.Е.Зачатейский3, С.В. Шад4

1–3 Институт радиофизики и физической электроники Омского научного центра СО РАН (г. Омск, Россия)

4 АО «Омский научно-исследовательский институт приборостроения» (г. Омск, Россия)

1 kriser2002@mail.ru, 2 n22f_o98@mail.ru, 3 d.zachateiskiy@gmail.com, 4 trs@oniip.ru