Журналы
Разделы книг
Статьи по ключевому слову что ведет к ухудшению массогабаритных характеристик изделия и снижению его надежности. Необходимо рассмотреть новый алгоритм управления транзисторами РИП
О.В. Непомнящий1, И.Е. Сазонов2, А.П. Яблонский3, В.Н. Хайдукова4
1-4 ФГАОУ ВО «Сибирский федеральный университет» (г. Красноярск, Россия)