350 руб
Журнал «Динамика сложных систем - XXI век» №5 за 2014 г.
Статья в номере:
Математическое моделирование и исследование электропроводности островковых металлических и полупроводниковых пленок
Ключевые слова: морфология рост тонкой пленки наноструктуры туннельный ток электропроводность
Авторы:
С.М. Аракелян - д.ф.-м.н., профессор, зав. кафедрой физики и прикладной математики, Владимирский государственный университет им. А.Г. и Н.Г. Столетовых E-mail: arak@vlsu.ru Д.В. Бухаров - ассистент, кафедра физики и прикладной математики, Владимирский государственный университет им. А.Г. и Н.Г. Столетовых. E-mail: buharovdn@gmail.com А.В. Истратов - аспирант, кафедра физики и прикладной математики, Владимирский государственный университет им. А.Г. и Н.Г. Столетовых. E-mail: laser@vlsu.ru С.В. Кутровская - к.ф.-м.н., доцент, кафедра физики и прикладной математики, Владимирский государственный университет им. А.Г. и Н.Г. Столетовых. E-mail: 11stella@mail.ru А.О. Кучерик - к.ф.-м.н., вед. науч. сотрудник, кафедра физики и прикладной математики, Владимирский государственный университет им. А.Г. и Н.Г. Столетовых. E-mail: kucherik@vlsu.ru А.В. Осипов - инженер-исследователь, кафедра физики и прикладной математики, Владимирский государственный университет им. А.Г. и Н.Г. Столетовых. E-mail: patifon@mail.ru
Аннотация:
Представлены результаты моделирования роста островковой пленки c использованием диффузионной модели роста и теоретического исследования ее электропроводности в приближении Зоммерфельда-Бете-Холма. Показано, что туннельные токи преобладают при низких температурах и малых зазорах, термоэлектронная эмиссия преобладает при повышенных температурах в области больших зазоров. Проведенное моделирование позволяет качественно оценить характер и условия получения тонких наноструктурированных пленок с наперед заданными морфологическими свойствами и оценить их электропроводные свойства.
Страницы: 36-40
Список источников

 

  1. Антипов А.А., Аракелян С.М., Кутровская С.В., Кучерик А.О. Электрические свойства металлических кластерных структур на поверхности диэлектриков // Письма в ЖТФ. 2014. Т. 40. № 12. C. 73−80.
  2. Безносюк С.А., Лерх Я.В., Жуковская Т.М. Компьютерное моделирование самоорганизации фрактальных кластерных нанодендритов // Ползуновский вестник. 2005. № 4-1. С. 143−151.
  3. Смирнова К.И. Тонкие пленки в микроэлектронике. Учеб. пособие. Томск: Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники. 2007. 94 с.
  4. Чернов П.С., Васильев В.А. Модель роста поверхности тонких пленок материалов // Инновационные технологии. Ульяновск: УлГУ. 2010. № 3. С. 42−50.
  5. Offringa A. Diffusion Limited Aggregation. URL: http://www.astro.rug.nl/~offringa/Diffusion Limited Aggregation.pdf.