350 rub
Journal Science Intensive Technologies №7 for 2011 г.
Article in number:
Methods for studying images in transient spectroscopy
Keywords: Spectroscopy and the registration of fast processes femto-pico and nanosecondduration the electron - optical cameras technical specifications use the follow-fluorescence
Authors:
M. A. Karpov, B. S. Lobanov, V. I. Nefedov, N. A. Trefilov, N. S. Makeenkova, A. S. Avetisov, A. В. Ohanian
Abstract:
The application developed subminiature electron-optical chamber, docked with the spectrograph MS 3504i for the study of fluorescent dye-afterglow excited by femto - pico-and nanosecond laser duration of different wavelengths. Description and technical specifications developed equipment and the experimental results.
Pages: 49-53
References
  1. Нефедов В. И., Карпов М. А., Сигов А. С., Меньшиков В. В., Железнова С. Е., Попов Е. А.Скоростные электронно-оптические камеры в экспериментах по нестационарной спектроскопии // Материалы VII Междунар. науч.-техн. конференции «Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения». 23 - 27 ноября 2010 г. Москва. С. 35-39.
  2. Lebedev, V. B., Feldman, G. G., Super small single streak and single frame image converter camera // SPIE. V. 3516. P. 85-91.
  3. Карпов М. А., Нефедов В. И., Захаров А. К.Применение электронно-оптических камер для исследования прохождения колебаний в длинных воздушных промежутках. Сб. докладов. V Международная научно-практическая конференция. Молодые ученые - промышленности, науке, технологии и профессиональному образованию: проблемы и новые решения. 29 июня - 3 июля 2005 г. С. 63-74.
  4. К008 Streak and Uniframe Camera, http: www.bifocompany.com.
  5. Imaging Monochromator-Spectrograph MS 3504i, http: www.solartii.com.
  6. SVA-01 Temporal analyzing Monochromator-Spectrograph, http: www.bifocompany.com.
  7. Карпов М. А., Сигов А. С., Нефедов В. И., Лучников П. А.Применение электронно-оптического изображений в системе «ЛИДАР» для лазерного зондирования объектов в жидких и газовых средах. Материалы Международной научно-технической конференции «Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения». 7 - 11 декабря 2009 г., Москва. С. 282-286.