350 rub
Journal Radioengineering №6 for 2008 г.
Article in number:
Authors:
Масленников В.В., Аунг Мин
Abstract:
Рассмотрена возможность реализации на основе МДП-технологии микросхем активного звена 2-го порядка. При PSPICE-моделировании получены зависимости добротности от резонансной частоты. Приведена оценка качества звена по обобщенному параметру.