350 rub
Journal Radioengineering №5 for 2007 г.
Article in number:
Authors:
Дмитриев Д.А., Федюнин П.А., Панов А.А.
Abstract:
Приведены методы, позволяющие произвести контроль качества покрытия, локализации и визуализации неоднородностей. Решена задача определения геометрических и электрофизических параметров покрытий. Рассмотрена возможность анализа взаимосвязи структурных уровней поверхности с широким диапазоном идентифицируемых значений показателя Гельдера.