350 rub
Journal Radioengineering №8 for 2005 г.
Article in number:
Authors:
Аплеталин В.Н., Казанцев Ю.Н., Солосин В.С.
Abstract:
Дано описание разработанных в Институте радиотехники и электроники РАН рефлектометров, позволяющих измерять с высокой точностью амплитуду и фазу коэффициентов отражения от образцов материалов, а также диэлектрическую и магнитную проницаемости на сантиметровых и миллиметровых волнах.