350 rub
Journal Radioengineering №5 for 2003 г.
Article in number:
Authors:
Опаленов Ю.В.
Abstract:
Исследованы фрактальные статистики на многомерных радиолокационных растрах со скалярными пикселями; показана связь плотностей распределения вероятностей фрактально-топологической размерности с аффинным преобразованием Радона совместной плотности логарифмов статистик растров; приведены примеры, иллюстрирующие использование аффинного преобразования Радона для получения фрактальных распределений и демонстрирующие возможности фрактального обнаружителя.