350 rub
Journal №1 for 2012 г.
Article in number:
Field ion microscopy of nanomaterials received after powerful external influences
Keywords: field ion microscopy atom probes nanostructure states metals alloys a radiating irradiation intensive external influences
Authors:
V.A. Ivchenko
Abstract:
To the most powerful and modern methods of research of conductive and semiconducting materials with which help it is possible to study directly a crystal lattice of solids with the atomic spatial resolution, methods of field emission microscopy and various modifications of atom-probes of a field ion microscope concern. Article purpose - to show efficiency of use field emission and atom-probe methods for studying of nanomaterials and nanostructure states arising in bulk of metals and alloys at modification of atom structure of various materials by intensive external influences. To show, how along with the lattice defects typical for thermomechanical, thermal, powerful deformation, etc. influences (mean dot, point, linear, dislocations and other defects of a crystal lattice), in the irradiated materials are observed such radiating lattice defects as: void clusters, amorphous regions, nanosegregations of atoms of one of components in the ordered alloys etc. the Size of a field of microscope of an order of 100 nm that automatically defines nanostructured of an investigated material or not. Possibility of studying of the sample in bulk till the micron sizes gives a guarantee and macroscale information reception of experimental data.
Pages: 42-53
References
  1. Сокольская И.Л. Применение автоэмиссионного микроскопа для изучения поверхностной диффузии и самодиффузии // Поверхностная диффузия и растекание / под ред. Я.Е. Гегшузина. М.: Наука. 1969. С. 108-148.
  2. Мюллер Э.В. Автоионизация и автоионная микроскопия // УФН. 1962. Т.77. С. 481-552.
  3. Гомер Р. Сб. Катализ и электронные явления. М.: Ин. лит. 1958.
  4. Автоионная микроскопия / под ред. Дж. Рена и С. Ранганатана. М.: Мир. 1971.
  5. Bowkett K.M., Smith D.A. Field Ion Microscopy. Nord-Holland Publishing Company - Amsterdam - London. 1970.
  6. Мюллер Э.В., Цонг Т.Т. Автоионная микроскопия (принципы и применение). М.: Металлургия. 1972.
  7. Мюллер Э.В., Цонг Т.Т. Полевая ионная микроскопия, полевая ионизация и полевое испарение / пер. с англ. М.: Наука. 1980.
  8. Miller M. K., G.D.W. Smith. Atom probe microanalysis: Principles and Applications to Materials Problems. Pittsburg, Pennsylvania: Material Research Society. 1989.
  9. Tsong T.T. Atom-probe field ion microscopy, Field ion emission and surfaces and interfaces at atomic resolution. Cambridge University Press. 1990.
  10. Ивченко В.А., Сюткин Н.Н. Полевая ионная микроскопия деформационных эффектов в приповерхностном объеме ионно-имплантированных металлов (Ir) // Письма в ЖТФ. 1999. Т.25. В.6. С. 60-64.
  11. Бункин А.Ю., Гаврилов Н.В., Ивченко В.А. и др. Эффект дальнодействия в ионно-имплантированном сплаве Cu3Au // ФММ. 1990. Т. 69. № 4. C. 171-175.
  12. Бункин А.Ю., Ивченко В.А., Кузнецова Л.Ю. и др. Полевая ионная микроскопия в областях каскадов смещения в сплаве Cu3Au // ФММ. 1990. Т. 69. № 7. С. 111-118.
  13. Ivchenko V.A., Syutkin N.N. Effect of low-energy ion implantation (20-40 keV) on phase transformations in the subsurface volume of alloys // Appl. Surf. Sci. 1995. V. 87/88. Р. 257-263.
  14. Ivchenko V.A., Syutkin N.N., Bunkin A.Yu. FIM investigation of ion-implanted Cu3Au alloy // J. de. Phys. 1988. V. 49-C6. Р. 379-383.
  15. Ивченко В.А., Сюткин Н.Н., Кузнецова Л.Ю. Эффект аморфизации в приповерхностных объемах ионно-имплантированных сплавов // Письма в ЖТФ. 2000. Т. 26. В. 13. С. 5-10.
  16. Ivchenko V.A., Ovchinnikov V.V., Goloborodsky B.Yu., Syutkin N.N. FIM vacancy clusters in subsurface volume of ion-implanted Pd(CuAg) alloy // Surf. Sci. 1997. V. 384. P. 46-51.
  17. Буренков А.Ф., Комаров Ф.Ф., Кумахов М.А., Темкин М.М. Пространственные распределения энергии выделенной в каскаде атомных столкновений в твердых телах. М.: Энергоатомиздат. 1985.
  18. Ивченко В.А., Эфрос Б.М., Попова Е.В., Эфрос Н.Б., Лоладзе Л.В. Полевая ионная микроскопия металлов при интенсивном внешнем воздействии // ФТВД. 2003. Т. 3. № 3. С. 109-116.
  19. Мулюков Р.Р., Юмагузин Ю.М., Ивченко В.А., Зубаиров Л.Р. Полевая эмиссия из субмикроскопического вольфрама // Письма в ЖЭТФ. 2000. Т. 72. В. 5. С. 377-381.
  20. Ivchenko V.A., Wanderka N., Czubayko U., Naundorf V., Ermakov A.Ye., Uimin M.A. and Wollenberg H. Mechanically alloyed nanocrystalline Cu80Co20 investigated by AP/FIM and 3DAP // Mater. Sci. Forum. 2000. V. 343/346. P. 709-714.
  21. Ivchenko V.A., Uimin M.A., Yermakov A.Ye., Korobeinikov A.Yu. Atomic structure and magnetic properties of Cu80Co20 nanocrystalline compound produced by mechanical alloying // Surf. Sci. 1999. V. 440. P. 420-428.
  22. Czubayko U., Wanderka N., Naundorf V., Ivchenko V.A., Yermakov A.Ye., Uimin M.A., Wollenberg H. Three-dimensional atom probing of supersaturated mechanically alloyed Cu-20at.% Co // Mater. Sci. & Eng. 2002. A327. P. 54-58.
  23. Wanderka N., Czubayko U., Naundorf V., Ivchenko V.A., Yermakov A.Ye., Uimin M.A., Wollenberg H. Characteri¬zatrion of nanoscaled heterogeneities in mechanically alloyed and compacted CuFe // Ultramicroscopy. 2001. V. 89. P. 189-194.
  24. Ivchenko V.A., Medvedeva E.V. Modification of Nanostructured States in Ion_Implanted Platinum // Izvestiya Rossiiskoi Akademii Nauk. Seriya Fizicheskaya. 2010. V. 74. No. 2. Р. 237-240.
  25. Ивченко В.А., Медведева Е.В. Особенности формирования наноструктурных состояний в приповерхностном объеме ионно-имплантированной платины // Труды XIX Международного совещ. «Радиационная физика твердого тела», 31 августа - 5 сентября 2009, г. Севастополь. М.: НИИ ПМТ МИЭМ. 2009. С. 5-10.
  26. Эфрос Б.М., Попова Е.В., Эфрос Н.Б., Ивченко В.А., Варюхин В.Н. Влияние интенсивной пластической деформации на структуру и упрочнение поликристаллического никеля // Металлы. 2005. № 6. С. 31-35.
  27. Герасимов В.В., Монахов А.С. Материалы ядерной техники. М.: Энергоиздат. 1982.
  28. Thompson K., Bunton J.H., Kelly T.F. and Larson D. Characterization of ultralow-energy implants and towards the analysis of three-dimensional dopant distributions using three-dimensional atom-probe tomography // J. Vac. Sci. Technol. 2006. B 24(1). Р. 421-427.